49–64 termék, összesen 74 db
Kis mérete ellenére nagyfokú analitikai teljesítményt nyújt. Ideális megoldás, ha költséghatékony, de megbízható OES spektrométert keres.
Nagyfokú analitikai teljesítményt nyújt kis mérete ellenére. Ideális megoldás, ha költséghatékony, de megbízható OES spektrométert keres.
Az új OE720 úttörőnek számít az OES fémanalizáló készülékek között. A fémvizsgálathoz szükséges elemek teljes spektrumát lefedi, valamint kategóriájában a legkisebb kimutatási határral rendelkezik.
Professzionális analitikai teljesítmény, költséghatékony üzemeltetés. Kiváló minőségellenőrzés, kompromisszumok nélkül. Mérési tartomány 120-780nm-ig.
Hőkezelésnél fontos az összetett réteg vastagságának, az ötvözött elemek koncentrációjának, ill. az alapszövet és a felület kémiai összetételének ellenőrzése.
A villamosívvel dolgozó vizsgálópisztoly megfelelő nagymennyiségű acéltermék gyors válogatására, vagy főbb ötvözőinek közelítő meghatározására Argon védőgáz nélkül.
Kábelek GasFindIR, P600/B600/SC600, P25-P65, S65, B20, T200-T400, B200-B400, E- szériához és A320 / A-szériákhoz.
Kisebb darabszámoknál elegendő lehet egyszerűbb csiszológép használata. Főleg az öntödei érempróbákhoz ajánlatos egy mágneses megfogó használata.
Memória P/B/SC600, T/B200-T/B400, i/b40-i/b60, InfraCAM/B-CAM SD, P25, S65, B20 és SC3000 szériákhoz.
Méréshatár-kiterjesztés/növelés. Az adott hőkamerák alap méréshatárait típustól függően kiterjeszthetjük, amennyiben nem elég az alap méréstartomány. Természetesen ehhez kalibráció is szükséges, amely tartalmazza a felülvizsgálatot is.
Hordozható, egyszerű asztali csiszológép acél és vas anyagú mintadarabok OES vagy XRF spektrometriai vizsgálathoz való előkészítéséhez.
Egytárcsás vagy duplatárcsás csiszológép acél és vas anyagú mintadarabok OES vagy XRF spektrometriai vizsgálathoz való precíziós előkészítéséhez.
Kompakt asztali automata csiszológép nem vastartalmú fém mintadarabok OES és XRF spektrometriai vizsgálathoz való előkészítéséhez.
Manuális kompakt csiszológép vas- és acélminták OES vagy XRF spektrometriai vizsgálathoz való előkészítéséhez.
