1–16 / 24 találat
Kiegészítők hőkamerákhoz és infrakamerához: akkumulátorok, tápegységek, töltők.
A mérés nem tart tovább 3 másodpercnél (nagyon lágy anyagoknál egy kicsivel tovább). A felület előkészítése csak a mérés helyén szükséges.
A FLIR A310 pt hőkamera +/- 360º körben folyamatos és +/- 45º dönthető szögben tud megfigyelni. Több kamerás (Viz+Term) rendszerben ideális nagy területek fedezésére.
Rögzíthető, szinte bárhol telepíthető hőkamera, mellyel figyelemmel kísérhetők a gyártási-, biztonsági- és egyéb monitoring folyamatok.
A FLIR Axx-sorozat a tökéletes megoldás azok számára, akik kedvező áron igénylik a termikus képet, de nem szükséges a pontos hőmérés a monitoring alkalmazásukhoz.
A FLIR ResearchIR szoftver része a FLIR K+F program családjának. Célja, hogy a haladó felhasználók több termikus eseményt figyelemmel kísérhessenek.
A FLIR ResearchIR Max szoftver a FLIR K+F program családjának a csúcsa. Még több rögzítési, elemzési és matematikai funkcióval ellátva.
A FLIR Tools szoftvercsomaggal egyszerűen frissítheti hőkameráját, kezelheti, kiértékelheti és ellenőrizheti hőképeit, jelentéseket hozhat létre.
A FLIR VideoReport szoftvercsomag megkönnyíti a FLIR GF szériájú hőkamerákkal készült videókat tartalmazó jelentések elkészítését.
Kábelek GasFindIR, P600/B600/SC600, P25-P65, S65, B20, T200-T400, B200-B400, E- szériához és A320 / A-szériákhoz.
Professzionális kompakt keménységmérő (0,01 – 50 kg). Képes a mikro- és makro-Vickers, Knoop valamint kisterhelésű Brinell eljárások mérésére.
Full automata, kimagaslóan felhasználóbarát, nagy teljesítményű digitális keménységmérő szabványos keménységméréshez.
Labino® Apollo 1.0 Fénymérő gyors és pontos UV és látható fénymérést biztosít. Az Apollo 1.0-val mindkét mérés elvégezhető.
Az UVG3 termékcsalád 2.0-ás verziója veszi át a régi generáció helyét, mely változás rengeteg pozitívummal jár. A gyártó a rúdlámpák méreteit megtartotta, viszont az új generáció már IP68 védelemmel rendelkezik, illetve nagyobb fényintenzitással képes megvilágítani a vizsgált felületet.
