X-RAY XDV-µ és XDV-SDD réteg­vastagságmérő és anyaganalizátor

A FISCHERSCOPE széria ezen típusai ideálisak rétegrendszerek nagy pontosságú mérésére nyomtatott áramkörökön, vezetőfóliákon, vékony huzalokon és szilícium ostyákon, valamint alkatrészek anyaganalízisénél az elektronikai és félvezető iparban.

Leírás

A FISCHERSCOPE széria ezen típusai ideálisak rétegrendszerek nagy pontosságú mérésére nyomtatott áramkörökön, vezetőfóliákon, vékony huzalokon és szilícium ostyákon, valamint alkatrészek anyaganalízisénél az elektronikai és félvezető iparban.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD

Az XDV-SDD típust a rétegvastagság-mérés és anyaganalízis legmagasabb követelményeihez fejlesztették. Egy modern szilícium drift-detektor segítségével speciálisan, a néhány nanométer vékony rétegek roncsolásmentes meghatározásához és a pontos analízishez alkalmazható. Ideális a nyomtatott áramkörök és elektronikai alkatrészek RoHS és WEEE követelmények szerinti méréséhez, komplex rétegrendszerek meghatározásához, valamint galvanikus vagy felgőzölt réteg méréséhez az elektronikai- és félvezető iparban. A kémiai nikkel-rétegek foszfortartalma is meghatározható az XDV-SDD típussal.

Ahhoz, hogy minden egyes méréshez a megfelelő gerjesztési feltétel biztosított legyen, az XDV-SDD elektromosan pozicionált kollimátorokkal és 6 primerszűrővel rendelkezik. Univerzálisan alkalmazható az automatizált mérésekhez is a gyors és programozható XY-mérőasztalnak köszönhetően, pl. a minőségbiztosításban.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ

Az XDV-µ típus egy innovatív polikapilláris-röntgenoptikával van felszerelve a röntgensugarak fókuszálásához, ahol nagyon kicsi mérési felületek realizálhatók magas gerjesztő intenzitás mellett. A XDV-µ típus különösen a vékony rétegek és a 100 µm-nél kisebb rétegrendszerek analíziséhez alkalmas. A szilícium driftdetektor emellett nagy pontosságú analízist valamint megfelelő érzékenységet biztosít. A nagy felbontású videooptika által biztos pozicionálásra és tűéles-megjelenítésre van lehetőség akár a legkisebb felületeken is.

Főként kutatási és fejlesztési feladatoknál használják laborokban, de használják még a minőségbiztosításban, valamint a gyártás-felügyeletben is.

Elérhető dokumentumok

 

Értékelések

Még nincsenek értékelések.

„X-RAY XDV-µ és XDV-SDD réteg­vastagságmérő és anyaganalizátor” értékelése elsőként

Az e-mail-címet nem tesszük közzé. A kötelező mezőket * karakterrel jelöltük

5 × négy =

Kérjen ajánlatot!

    Amennyiben hibát talál az email küldésekor kérjük írjon közvetlenül az email címünkre: info@grimas.hu

    A hiba elhárításán dolgozunk.