Leírás
A FISCHERSCOPE széria ezen típusai ideálisak rétegrendszerek nagy pontosságú mérésére nyomtatott áramkörökön, vezetőfóliákon, vékony huzalokon és szilícium ostyákon, valamint alkatrészek anyaganalízisénél az elektronikai és félvezető iparban.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
Az XDV-SDD típust a rétegvastagság-mérés és anyaganalízis legmagasabb követelményeihez fejlesztették. Egy modern szilícium drift-detektor segítségével speciálisan, a néhány nanométer vékony rétegek roncsolásmentes meghatározásához és a pontos analízishez alkalmazható. Ideális a nyomtatott áramkörök és elektronikai alkatrészek RoHS és WEEE követelmények szerinti méréséhez, komplex rétegrendszerek meghatározásához, valamint galvanikus vagy felgőzölt réteg méréséhez az elektronikai- és félvezető iparban. A kémiai nikkel-rétegek foszfortartalma is meghatározható az XDV-SDD típussal.
Ahhoz, hogy minden egyes méréshez a megfelelő gerjesztési feltétel biztosított legyen, az XDV-SDD elektromosan pozicionált kollimátorokkal és 6 primerszűrővel rendelkezik. Univerzálisan alkalmazható az automatizált mérésekhez is a gyors és programozható XY-mérőasztalnak köszönhetően, pl. a minőségbiztosításban.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
Az XDV-µ típus egy innovatív polikapilláris-röntgenoptikával van felszerelve a röntgensugarak fókuszálásához, ahol nagyon kicsi mérési felületek realizálhatók magas gerjesztő intenzitás mellett. A XDV-µ típus különösen a vékony rétegek és a 100 µm-nél kisebb rétegrendszerek analíziséhez alkalmas. A szilícium driftdetektor emellett nagy pontosságú analízist valamint megfelelő érzékenységet biztosít. A nagy felbontású videooptika által biztos pozicionálásra és tűéles-megjelenítésre van lehetőség akár a legkisebb felületeken is.
Főként kutatási és fejlesztési feladatoknál használják laborokban, de használják még a minőségbiztosításban, valamint a gyártás-felügyeletben is.
Elérhető dokumentumok
Értékelések
Még nincsenek értékelések.