Az optikai emissziós spektrometria (OES) és a röntgen-fluoreszcencia (XRF) vizsgálati technológiák a leggyakrabban használt módszerek a fémek összetételének meghatározására.
Az optikai emissziós spektrometria (OES) és a röntgen-fluoreszcencia (XRF) vizsgálati technológiák a leggyakrabban használt módszerek a fémek összetételének meghatározására.
A megfelelő vizsgálati eredmény érdekében a legtöbb esetben precíz, gyors felület-előkészítésre van szükség, ebben nyújt segítséget a Metkon Spectral termékcsalád.
Legyen szó kézi vagy automata mintaelőkészítési folyamatról, fazékköves vagy marófejes anyag leválasztásról, különböző méretű és geometriájú mintákról, próba darabokról, a Metkon minden helyzetben megoldást kínál.
Amennyiben felkeltettük érdeklődését, regisztráljon termékbemutatóinkra, illetve kérjen bővebb információt üzletkötő kollégánktól, vagy keressen fel minket központi elérhetőségeinken!
Irodai cím:
1214 Budapest, Puli sétány 2-4.
Telefonszám:
+36 1 420-5883
Email:
info@grimas.hu
Nyitvatartás:
Hétköznap: 7:30 - 16:00
Copyright 2023 | GRIMAS Ipari Kereskedelmi Kft. © Minden jog fenntartva.