Leírás
A méréstechnika és a mikroszkópia találkozása. Könnyű kezelhetőség, mérés és jegyzőkönyvkészítés. Magas felbontású 3D szkennelés.
Ajánlott alkalmazási területek:
- dombornyomott minták és biztonsági nyomtatások pontos vizsgálata
- érdességmérés acélfelületeken
- mikro-elektronikai alkatrészek és felvezetők vizsgálata
Az NPS konstrukció egyedi előnyei:
- gyors, érintésmentes profilozás
- magas felbontású 3D szkennelés
- XYZ mérések
- bármilyen felületen alkalmazható
- Hybrid digitális mikroszkópia: NPS + RH-2000 mikroszkóp
- egyszerű riportolási lehetőségek a Hirox Map funkcióval
Metrológiai mérési funkciók:
- távolság
- térfogat
- érdesség
- hullámosság
- kerekdedség
- egyenletesség
- koplanaritás (egysíkúság)
- deformáció
- topográfia
- tribológia
Olvassa el a gyártó céget bemutató cikkünket!
Kérdés, érdeklődés esetén keresse kollégáinkat bizalommal!
Kapcsolat: Majercsák László
Elérhetőségek: 06 1 420 5883 vagy info@grimas.hu
Értékelések
Még nincsenek értékelések.